专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]程序代码测试方法及装置-CN201610914922.2有效
  • 童立舟;丁磊;江诗怡 - 腾讯科技(深圳)有限公司
  • 2016-10-20 - 2019-08-06 - G06F11/36
  • 本发明实施例公开了程序代码测试方法及装置,以降低传统路径覆盖带来的海量检测,以及检测无针对性的问题。该方法包括获取本次测试测试目的;搜索所述程序代码对应的逻辑拓扑树,得到与所述测试目的相关的逻辑出口节点,作为目标逻辑出口节点;以所述目标逻辑出口节点为起点,对所述逻辑拓扑树中包含所述目标逻辑出口节点的逻辑路径进行逻辑测试可见,在本实施例中,是对包含与测试目的相关的逻辑出口节点的逻辑路径进行逻辑测试,而不是对所有的逻辑路径进行逻辑测试。由于是基于测试目的进行的逻辑测试,因此,与传统白盒测试相比,本发明实施例所提供的程序代码测试方案更具有针对性。
  • 程序代码测试方法装置
  • [发明专利]一种软件测试方法及系统-CN202111035934.5有效
  • 周海冰 - 汇通达网络股份有限公司
  • 2021-09-06 - 2021-12-28 - G06F11/36
  • 本发明公开了一种软件测试方法及系统,包括:对获取的待测试文件集合所存储的待测试逻辑文件进行逻辑测试,在第一待测试逻辑文件通过逻辑测试时,生成第二待测试逻辑文件,将第二待测试逻辑文件添加至目标待测试文件组,得到更新后的待测试文件集合,将第二待测试逻辑文件在测试网络中进行广播,以使测试网络中其余软件测试服务器将第二待测试逻辑文件缓存,对更新后的每个待测试逻辑文件分别对应的测试成功置信度进行更新,将更新后的测试成功置信度大于预设成功置信度阈值的待测试逻辑文件确定为测试成功状态,相较于相关技术中测试人员仅利用本地服务器进行有限的软件测试,本发明利用多个软件测试服务器协同实现高效准确地软件测试
  • 一种软件测试方法系统
  • [发明专利]标准单元库的测试方法-CN201911334496.5有效
  • 尤美琳;高唯欢;胡晓明 - 上海华力微电子有限公司
  • 2019-12-23 - 2021-12-17 - G01R31/28
  • 本发明提供一种标准单元库的测试方法,在所述的标准单元库的测试方法中,通过对所述组合逻辑单元和所述时序逻辑单元输入测试信号,以得到组合逻辑单元输出信号和时序逻辑单元输出信号;分别选取所述组合逻辑单元输出信号和所述时序逻辑单元输出信号中的数据;以及将选取的所述组合逻辑单元输出信号中的数据与一组合逻辑测试数据比较,以及将选取的所述时序逻辑单元输出信号中的数据与一时序逻辑测试数据比较,以测试所述组合逻辑单元和所述时序逻辑单元的功能是否正常。由此,通过设置所述测试信号测试所述组合逻辑单元和所述时序逻辑单元的功能,从而减少测试向量,提高工作的效率。
  • 标准单元测试方法
  • [发明专利]用于操作在正常工作期间保持恒定的逻辑值的扫描测试系统和方法-CN01804472.7无效
  • R·塞蒂尔 - 皇家菲利浦电子有限公司
  • 2001-10-02 - 2006-01-04 - G01R31/3185
  • 本发明是一种系统和方法,由在正常工作期间保持逻辑值恒定并在扫描测试工作期间促进对逻辑值的操作。在一种实施方案中本发明是一种恒定逻辑值操作扫描测试链,它包括组合电路、恒定逻辑值扫描测试操作电路和扫描测试元件。组合电路在正常工作期间执行函数运算。恒定逻辑值扫描测试操作电路提供在正常工作期间保持恒定并在扫描测试操作期间根据扫描测试输入信息而改变的逻辑值输出。扫描测试元件传递测试向量给功能部件并和用来执行正常工作的功能逻辑相互作用。在本发明的一种示例性实现方式中,组合电路是一个逻辑门,而且恒定逻辑值扫描测试操作电路的逻辑值输出被耦合到该逻辑门的输入。该逻辑门的逻辑值输入在正常工作期间保持恒定,并且在扫描测试操作期间根据扫描测试输入信息对其进行操作。
  • 用于操作正常工作期间保持恒定逻辑扫描测试系统方法
  • [发明专利]半导体芯片的测试方法-CN202210050634.2在审
  • 艾鹏;李康 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2022-01-17 - 2022-04-29 - G11C29/56
  • 本发明涉及一种半导体芯片的测试方法,所述半导体芯片中包括至少一个逻辑单元,每个所述逻辑单元中包括多个逻辑块,每个所述逻辑块包括多个逻辑页,每个所述逻辑页包括多个逻辑列,其特征在于,包括:启动测试程序,所述测试程序包括预设的地址规则,在所述地址规则中,用第一坐标表示所述多个逻辑页的地址,用第二坐标表示所述多个逻辑块的地址,用寄存器表示所述多个逻辑列的地址;读取测试文件,所述测试文件中包括待测试对象的地址;以及所述测试程序根据所述地址规则对所述待测对象进行定位和测试本发明的测试方法降低了不同产品、同类型测试的开发成本和开发周期。
  • 半导体芯片测试方法
  • [发明专利]片上系统的数字逻辑测试方法、装置、电子设备和介质-CN202210990018.5在审
  • 王旭 - 地平线(上海)人工智能技术有限公司
  • 2022-08-17 - 2022-11-18 - G01R31/317
  • 本公开实施例公开了一种片上系统的数字逻辑测试方法、装置、电子设备和介质,其中,方法包括:确定片上系统的待测逻辑对象测试对应的逻辑向量以及逻辑向量的目标数量;基于逻辑向量对待测逻辑对象进行测试,得到待测逻辑对象的测试结果;对测试结果进行压缩,获得压缩结果;响应于待测逻辑对象完成目标数量的逻辑向量测试,生成待测逻辑对象的测试完成信号;将测试完成信号与压缩结果通过中断传送方式传输到片上系统控制模块。实现了测试完成信号与压缩结果的快速传输,有效减少压缩结果的传输时间,从而减少压缩结果的比较结果等待时间,大大提高测试效率,解决现有技术中压缩结果的比较结果等待时间较长等问题。
  • 系统数字逻辑测试方法装置电子设备介质
  • [发明专利]提高代码测试精度的方法及装置、存储介质及电子设备-CN202211526348.5在审
  • 张萌 - 京东科技控股股份有限公司
  • 2022-12-01 - 2023-03-03 - G06F11/36
  • 本发明提供一种提高代码测试精度的方法及装置、存储介质及电子设备,包括:获取测试任务,并获得测试任务中的变更代码;获取变更代码的关系数据,关系数据包含变更代码的逻辑分支和测试逻辑分支时所应用的用例之间的映射关系;执行测试用例,以对变更代码进行测试,并采集变更代码的测试覆盖数据;基于测试覆盖数据,确定变更代码中尚未测试逻辑分支;当确定关系数据中存在与尚未测试逻辑分支对应的映射关系时,执行与该映射关系对应的用例,以测试尚未测试逻辑分支。本发明分析出测试的变更代码中尚未被测试逻辑分支,并确定与该逻辑分支对应的用例,执行用例以对逻辑分支测试,从而提高变更代码的测试覆盖率和测试精度。
  • 提高代码测试精度方法装置存储介质电子设备
  • [发明专利]一种利用测试套完成产品自动化测试的方法-CN200510101179.0有效
  • 林培兴 - 华为技术有限公司
  • 2005-11-07 - 2006-10-25 - G06F11/36
  • 本发明涉及自动化测试技术中的一种利用测试套完成产品自动化测试的方法,为要解决现有方法无法控制执行顺序、执行次数等问题,本发明的测试套中定义了测试环境、测试逻辑测试用例数据的执行顺序、执行次数等控制信息,运行引擎读入测试套后,会根据测试环境的执行顺序每次取一种测试环境,然后根据当前测试环境下的测试逻辑的执行顺序每次取一个测试逻辑进行测试,然后根据当前测试逻辑下的测试用例数据的执行顺序每次取一套测试用例数据,并据此来执行当前测试逻辑以实现测试功能;依次类推,直至完成所有测试环境、测试逻辑测试用例数据的测试,从而可控制测试环境、测试逻辑测试用例数据的执行次数、执行顺序,并具有移植性强等优点。
  • 一种利用测试完成产品自动化方法
  • [发明专利]存储器及其测试方法-CN202010846071.9有效
  • 钱海涛;路利刚 - 上海燧原科技有限公司
  • 2020-08-21 - 2020-12-11 - G11C29/18
  • 本发明实施例公开了一种片上系统的存储器及其测试方法。所述存储器包括:多个物理存储单元;多个第一逻辑映射单元,每个所述第一逻辑映射单元与至少两个所述物理存储单元电连接;第二逻辑映射单元,所述第二逻辑映射单元与所述第一逻辑映射单元电连接;测试逻辑单元,所述测试逻辑单元与所述第二逻辑映射单元电连接,用于通过所述第二逻辑映射单元及所述第一逻辑映射单元对所述物理存储单元进行测试;所述片上系统的功能电路复用为所述第一逻辑映射单元,所述功能电路还用于在对所述物理存储单元测试以外时工作。本发明实施例的存储器中由第一逻辑映射单元、第二逻辑映射单元以及测试逻辑单元组成的测试逻辑具有面积小等优势。
  • 存储器及其测试方法
  • [发明专利]软件性能测试方法及系统-CN202011352370.3在审
  • 顾黎明 - 苏州律点信息科技有限公司
  • 2020-11-27 - 2021-08-20 - G06F11/36
  • 本发明实施例提供了一种软件性能测试方法及系统,基于约束逻辑运行指标序列和非约束逻辑运行指标序列的拓扑关系,确定约束逻辑运行指标序列对应的第一软件性能测试参数和非约束逻辑运行指标序列对应的第二软件性能测试参数,接着根据第一软件性能测试参数和第二软件性能测试参数,从约束逻辑运行指标序列中确定出代替非约束逻辑运行指标序列的目标约束逻辑运行指标,并利用约束逻辑运行指标序列和目标约束逻辑运行指标,对待测试指标运行信息进行软件性能测试如此,无需用户繁琐的交互参与,能够自动根据软件应用程序的待测试指标运行信息动态确定软件性能测试参数情况,从而快速地定位到软件性能测试过程中的流程。
  • 软件性能测试方法系统

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